豐度

 

類似于UV檢測(cè)器上的吸光度在背景值上信號(hào)的垂直增加，表示某特定離子的強(qiáng)度(當(dāng)x軸被校正為質(zhì)量單λ)或存在的總離子強(qiáng)度(當(dāng)水平軸被校正為時(shí)間或掃描)。單個(gè)被測(cè)物或化合物產(chǎn)生的所有碎片離子分別與基峰相比的值(ÿ個(gè)離子的相對(duì)豐度)被作為該化合物的特定碎裂模式，進(jìn)行質(zhì)譜圖。

 

準(zhǔn)確測(cè)定的質(zhì)量

 

以一定誤差值測(cè)得的化合物質(zhì)量數(shù)，如測(cè)量誤差為5ppm。精確測(cè)定的質(zhì)量通常也用于指具體的技術(shù)，而不是測(cè)量的質(zhì)量。精確質(zhì)量是化合物質(zhì)量的準(zhǔn)確理論值。

 

常壓固體分析探針(ASAP)

 

在1970年代，基于Horning的工作，由McEwen和McKay開發(fā)了這種形式的樣品電離途徑，使用標(biāo)準(zhǔn)的APCI等離子體，通過(guò)將樣品放置入加熱的氮?dú)饬髦�，形成離子。加熱揮發(fā)非常多的樣品，通過(guò)與APCI等離子體形成的亞穩(wěn)定離子之間的電荷交換形成離子。使用質(zhì)量精度高的質(zhì)譜儀，能從復(fù)雜混合物中相對(duì)清楚的鑒定出低含量水平的單個(gè)化合物。也可參見DART和DESI。

 

大氣壓電離(API)

 

該專業(yè)用語(yǔ)通常指的是，諸如電噴霧電離(ESI)、大氣壓化學(xué)電離(APCI)和其它在大氣壓下操作的技術(shù)。

 

大氣壓化學(xué)電離(APCI)

 

原本稱為溶劑介導(dǎo)的電噴霧，通常有效的應(yīng)用于直接脫離溶液不易電離的中性分子。APCI在尖銳的針尖提供電流，被放置在進(jìn)入的氣霧流中，以建立來(lái)自溶液自身的亞穩(wěn)離子等離子體，當(dāng)被分析物通過(guò)等離子體時(shí)，將來(lái)自這些離子的電荷傳遞給被分析物。加熱LC或溶劑流通過(guò)的探針，形成氣溶膠。

 

常壓氣相色譜

 

由DuPont的Chales McEwen于2002年開發(fā)而來(lái)。使用加熱的轉(zhuǎn)移管線，GC流出物能夠引入到質(zhì)譜儀的標(biāo)準(zhǔn)API(或ESI/APCI)離子源。這便于那些適合用GC分析的化合物簡(jiǎn)單方便地從ESI向GC轉(zhuǎn)換。電離方式可以是APCI或APPI。

 

大氣壓光電離(APPI)

 

1980年代已被開發(fā)出，但是在2000年后，發(fā)現(xiàn)氪氣燈能夠產(chǎn)生10eV（大約）足夠的光子能量，電離諸如PAH和甾體等通常不適合采用ESI和APCI電離的非極性被測(cè)物，這項(xiàng)技術(shù)才被商業(yè)化。

 

基峰

 

通常指與波譜圖中其它峰相比最強(qiáng)的峰；在能給出大量結(jié)構(gòu)信息的電離技術(shù)中，比如EI，基峰可能不是母離子或分子離子。

 

校正

 

通常以恒定流速導(dǎo)入已知的物質(zhì)，質(zhì)譜儀軟件按指定的過(guò)濾條件(例如，四級(jí)桿質(zhì)譜儀的RF/DC比率)采集信號(hào)。將采集信號(hào)與參照文件比較后，在軟件中建立校對(duì)查詢表。然后將校正表作為通過(guò)四級(jí)桿質(zhì)荷比的基準(zhǔn)，分配具體數(shù)值�？蓞⒁�"定量和校對(duì)"章節(jié)。

 

電荷殘留機(jī)制

 

該機(jī)制與電噴霧電離相關(guān)；1968年由Malcolm Dole第一次提出該理論，在該理論中，他假定當(dāng)小液滴揮發(fā)時(shí)，其電荷仍然保持不變。液滴的表面張力最終不能平衡帶電電荷的斥力，將小液滴炸裂成很多的更小液滴。持續(xù)發(fā)生庫(kù)侖分解，直到小液滴只含單一的被測(cè)物離子。當(dāng)溶劑從最后形成的小液滴中揮發(fā)掉，將形成氣相離子。

 

化學(xué)電離(CI)

 

通過(guò)導(dǎo)入反應(yīng)試劑，在低真空(0.4托)誘發(fā)碰撞，以增加分子離子的產(chǎn)率和提高靈敏度；因?yàn)檫@種電離，相比于電子撞擊電離，是一能量非常低的過(guò)程，所得碎片減少，通常稱為軟電離技術(shù)。可參見電子電離中的相關(guān)內(nèi)容。

 

碰撞誘導(dǎo)解離(CID)

 

也稱碰撞激活解離(CAD)，是氣相中破碎成分子離子的一種機(jī)制，分子離子通過(guò)在真空區(qū)域加速(采用電勢(shì))到高動(dòng)能，隨后與中性分子，如氦、氮或氬，碰撞，碎裂形成碎片離子。一部分動(dòng)能通過(guò)碰撞轉(zhuǎn)化或內(nèi)化，結(jié)果使化學(xué)鍵斷裂，分子離子碎裂為更小的片段。一些類似的‘特殊目的'的破碎方法，包括電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)，電子捕獲解離(ECD)。

 

實(shí)時(shí)直接分析(DART)

 

2002年，由Robert Cody和其它研究人員開發(fā)出，在應(yīng)用上類似于DESI，雖然在功能上更接近于APCI。樣品放置在一種底物之上，通過(guò)類似于APCI的過(guò)程，形成的高能粒子，轟擊樣品。更確切的說(shuō)，通過(guò)等離子體形成亞穩(wěn)離子，再由加熱后的氮?dú)猓�直接將亞穩(wěn)離子輸送到靶點(diǎn)。也可參見常壓GC和ASAP中列出的McEwen的研究工作。

 

延時(shí)提取 (DE)

 

為MALDI-TOF質(zhì)譜儀開發(fā)的一項(xiàng)技術(shù)，在離子形成后，加速離子進(jìn)入飛行管之前，冷卻"并聚焦離子大約150納秒。與δ冷卻的離子相比，冷卻的離子具有較低的動(dòng)能分布，當(dāng)冷卻離子進(jìn)入TOF分析器時(shí)，冷卻離子最終降低離子時(shí)間展寬，結(jié)果增加了分辨率和準(zhǔn)確度。DE對(duì)大分子不具有顯著的效益(例如，蛋白質(zhì)>30000Da)。

 

解離-電噴霧電離 (DESI)

 

在2002年，Graham Cooks第一次描述了該電離技術(shù)，將其作為從惰性基質(zhì)表面(通常條件下)產(chǎn)生軟次級(jí)離子的方式。該技術(shù)類似于MALDI，使用ESI探針，以相對(duì)于惰性基質(zhì)表面大約50度的入射角瞄準(zhǔn)，使離子化學(xué)噴射，進(jìn)入質(zhì)譜儀。已表明不需樣品制備，能得到直接來(lái)自很多極性和非極性表面材料的信息(皮膚，完整水果上檢測(cè)藥物殘留等等)。也可參見常壓GC和ASAP中列出的McEwen的研究工作。

 

硅上的脫吸電離(DIOS)

 

曾經(jīng)被視為MALDI制備樣品的基質(zhì)替代物，尤其對(duì)小分子，因?yàn)榛��?裸¶的硅表面)不產(chǎn)生干擾離子。在1990年代后期，其商業(yè)潛力減小，因?yàn)榘宓闹圃齑嬖陔y處，并且表面容易被污染。

 

直流電流

 

當(dāng)描述四級(jí)桿作為質(zhì)量過(guò)濾器怎樣工作時(shí)，這一專業(yè)用語(yǔ)通常與"射頻"聯(lián)合使用。在1953年，Wolfgang Paul證明在4根平行桿之間，將射頻(RF)和恒定直流電流(DC)電勢(shì)疊加，可作為質(zhì)量分離器或過(guò)濾器，只有特定質(zhì)量范Χ的離子，可以恒定振幅振蕩，通過(guò)四極桿而被分析器收集。

 

電子電離 (EI)

 

有時(shí)錯(cuò)誤地稱為"電子撞擊"電離，這種電離技術(shù)是電子與顆粒(原子或分子)相互作用的結(jié)果；該技術(shù)被認(rèn)為是‘硬'電離技術(shù)，因?yàn)殡婋x過(guò)程中傳遞大量能量，破壞分子內(nèi)部化學(xué)鍵，破壞這些化學(xué)鍵需要高達(dá)千卡/摩爾的能量。電離電壓(通常70eV)指的是引起電子加速的電壓差，該電壓誘導(dǎo)電子電離。不同于CI，EI通常在高真空下工作，以避免不可控的碰撞。分析器也在非常高的真空下工作(10-4到10-6托)。

 

電噴霧電離(ESI)

 

為所ν的‘軟'電離技術(shù)。大氣壓電離(API)是已被廣泛使用的技術(shù)。自從1980年代后期以來(lái)，該技術(shù)顯示出顯著的商業(yè)價(jià)值，這要?dú)w功于，對(duì)引導(dǎo)流體在其內(nèi)部流動(dòng)的導(dǎo)電管(不銹鋼ë細(xì)管)施加過(guò)多的能量(電壓范Χ在3-5千伏)，當(dāng)液體從導(dǎo)電管經(jīng)過(guò)時(shí)，超過(guò)瑞利極限，形成氣溶膠而被射出，產(chǎn)生包含離子，半徑大約為10微米的氣溶膠液滴。通常離子被質(zhì)子化，以M+H的陽(yáng)離子模式或M-H的負(fù)離子模式，被檢測(cè)。

 

元素分析

 

離子、分子或自由基的名義質(zhì)量是，其基本組成元素名義質(zhì)量的總和。準(zhǔn)確質(zhì)量測(cè)定基于計(jì)算的基本組成，但是‘元素分析'通常針對(duì)無(wú)機(jī)材料-只確定基本的組成，不確定結(jié)構(gòu)-在一些情況下，可分析固體金屬樣品。誘導(dǎo)偶合等離子體(ICP)源通常通過(guò)放電(或較低能量的發(fā)光放電)電離樣品。在萬(wàn)億分之一水平使用精密儀器檢測(cè)則不常見。

 

精確質(zhì)量

 

化合物質(zhì)量的準(zhǔn)確理論值。‘準(zhǔn)確測(cè)定質(zhì)量'是化合物的質(zhì)量測(cè)定值，存在測(cè)量誤差，如5ppm。準(zhǔn)確測(cè)定質(zhì)量也通常是指具體的技術(shù)，而不是測(cè)量的質(zhì)量。

 

快原子轟擊(FAB)

 

是較早的所ν的軟電離技術(shù)之一，轟擊的結(jié)果通常有密集的分子離子，并且?guī)缀醪话l(fā)生碎裂。被測(cè)物放入流動(dòng)的基質(zhì)中(通常是甘油)，或更常見置于探針的頂端，然后將其置于高能原子的·徑上-通常是氙或化銫。該技術(shù)對(duì)分子量大于10000原子單λ的生物分子有效，但可與扇形磁場(chǎng)聯(lián)用的特點(diǎn)更加重要，使用這種聯(lián)用技術(shù)，能夠確定準(zhǔn)確的質(zhì)量，比如新合成的肽。靈敏度可能非常高(低飛摩爾水平)。這項(xiàng)技術(shù)可能難于掌握，甘油污染質(zhì)譜儀離子源，甘油離子的存在，可能掩蓋較低的質(zhì)量。自從ESI引入后，該技術(shù)很少使用。

 

場(chǎng)電離 (FI)

 

FI為軟電離技術(shù)，對(duì)大量的各種被測(cè)物，幾乎û有碎裂作用。該技術(shù)對(duì)石油化學(xué)方面的應(yīng)用尤其顯著，在這個(gè)領(lǐng)域里，采用其它電離技術(shù)會(huì)有局限性，因?yàn)榇嬖谒榱?EI)問(wèn)題或其電離特點(diǎn)復(fù)雜(CI)。帶高電壓的一根細(xì)金屬絲，在有機(jī)化合物蒸汽中，比如茚，被加熱。產(chǎn)生的呈樹突狀沉積在金屬絲表面的結(jié)構(gòu)，被熱分解，生成非常纖細(xì)的傳導(dǎo)纖絲。當(dāng)在非常纖細(xì)的點(diǎn)，施加高電勢(shì)，將在其尖端產(chǎn)生非常強(qiáng)的電場(chǎng)，這就提供了發(fā)生場(chǎng)電離的條件。樣品分子貼近通過(guò)FI發(fā)射極形成的大量碳樹突狀結(jié)晶的尖端。FI發(fā)射極與一對(duì)空提取桿貼近放置。發(fā)射極為地電勢(shì)，提取桿施加相對(duì)高的電壓(12kv)，這樣在碳樹突狀結(jié)晶的尖端周Χ，形成非常高的電場(chǎng)。GC柱緊靠發(fā)射極金屬絲，并與其成一直線。在電場(chǎng)的作用下，出現(xiàn)分子價(jià)電子的量子通道，釋放出離子基。

 

流動(dòng)注射分析(FIA)

 

這是通過(guò)LC進(jìn)樣器導(dǎo)入樣品的分析(通常事先純化，去掉干擾物，減少結(jié)果譜圖的復(fù)雜性)，但是不接色譜柱。LC只作為樣品導(dǎo)入裝置。

 

細(xì)絲

 

在電子電離中，細(xì)絲是電子的來(lái)源，電子與被測(cè)物相互作用，引起電離。通常由金屬絲制成(扁平或圓形)，在電流加熱時(shí)，釋放出70eV的電子。

 

碎片離子

 

碎片離子是由母體分子離子發(fā)生碎裂產(chǎn)生。解離出的所有碎片的質(zhì)量數(shù)之和等于母離子的質(zhì)量數(shù)，在指定的條件下，以可預(yù)測(cè)的方式，斷裂相同的內(nèi)鍵，分子碎裂方式是可以預(yù)測(cè)的(碎片離子相同，其相對(duì)豐度也相同)。也可參見從具體MRM試驗(yàn)得到的產(chǎn)物(子代)離子。

 

氣相離子

 

為了質(zhì)譜儀能夠工作和采集，被測(cè)物必須實(shí)現(xiàn)從靜止?fàn)顟B(tài)像離子狀態(tài)轉(zhuǎn)換。如該手冊(cè)所述，有很多途徑完成這一轉(zhuǎn)換-一些途徑采用比較激烈方式產(chǎn)生碎片，而另外的一些途徑能保持被測(cè)物完好。能量作用于被測(cè)物，在氣相產(chǎn)生離子，跟在LC中根據(jù)冷凝相用于被測(cè)物分離的過(guò)程完全相反。

 

均方根誤差測(cè)定(RMS)

 

為評(píng)估儀器質(zhì)量準(zhǔn)確測(cè)量功能(類似于預(yù)期使用)的綜合方法，數(shù)值上等于均方根或RMS誤差。RMS誤差按下列關(guān)系計(jì)算，在此Eppm是ppm誤差，n是考察質(zhì)量的個(gè)數(shù)。RMS =n

 

掃描

 

通過(guò)計(jì)算機(jī)調(diào)整控制電壓(DC和RF)，在指定的范Χ內(nèi)，隨時(shí)間掃描(檢測(cè))給定質(zhì)量范Χ內(nèi)的任何帶電顆粒。能夠檢測(cè)多種帶電離子則會(huì)降低靈敏度，因?yàn)闄z測(cè)器能夠響應(yīng)一些目標(biāo)離子，但檢測(cè)器卻被設(shè)置在其它的檢測(cè)范Χ。參見選定離子的監(jiān)測(cè)，四級(jí)桿和離子電流章節(jié)的內(nèi)容。

 

選定離子的監(jiān)測(cè)(SIM)

 

也稱為選定離子的記¼(SIR)；也可參閱四級(jí)桿和掃描。

在四級(jí)桿上，能夠調(diào)節(jié)DC和RF電壓設(shè)置，僅讓一個(gè)帶電顆粒通過(guò)(單質(zhì)荷比)到達(dá)檢測(cè)器。結(jié)果噪音顯著減少，當(dāng)靈敏度顯著增加時(shí)，出現(xiàn)信號(hào)(此m/z的所有顆粒始終被檢測(cè))，這完全以檢測(cè)不到混合物中的其它質(zhì)荷比的顆粒為代價(jià)。熱噴霧雖然文獻(xiàn)報(bào)道這種類型的接口已有一段時(shí)間，但是直到1980年代早期才普及。Vestal和Blakely應(yīng)值得贊賞，因?yàn)樗麄冊(cè)贚C和MS之間首次建立了實(shí)際可行，完全商業(yè)化的接口技術(shù)。大約流速1mL/min的LC溶劑在探針中，被加熱(絕緣管大約1-2英尺長(zhǎng)，75-150微米的內(nèi)徑)，形成的蒸汽噴入質(zhì)譜儀。質(zhì)譜儀中的氣溶膠液滴被進(jìn)一步去溶劑，形成離子，進(jìn)入分析器(以適合的角度噴射)，會(huì)受到透鏡電壓的影響。參見掃描，離子電流。