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掃描俄歇微探針(SAM)

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2013-05-30
核心提示:掃描俄歇微探針(SAM);基本功能: 。1)可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析(包括點(diǎn)分析,線分析和面分析);  (2)可進(jìn)行深度
 掃描俄歇微探針(SAM);
 基本功能:
 。1)可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析(包括點(diǎn)分析,線分析和面分析);
  (2)可進(jìn)行深度分析;
  (3)化學(xué)價(jià)態(tài)研究
 用途:
納米薄膜材料,微電子材料的表 面和界面研究及摩擦化學(xué)研究。
編輯:songjiajie2010

 
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關(guān)鍵詞: 化學(xué)價(jià)態(tài)
 

 
 
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